新聞

光子芯片高低溫測(cè)試設(shè)備適配苛刻溫度環(huán)境
2025/08/22 66
在半導(dǎo)體與光子技術(shù)結(jié)合發(fā)展進(jìn)程中，光子芯片憑借高帶寬、低損耗的信號(hào)傳輸優(yōu)勢(shì)，成為光通信、量子計(jì)算等領(lǐng)域的組件之一。光子芯片高低溫測(cè)試設(shè)備作為驗(yàn)證光子芯片在苛刻溫度下性能的關(guān)鍵工具之一，需攻克溫度控...
查看全文
超快速冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)不同溫變速率下的適用場(chǎng)景差異
2025/08/22 45
在半導(dǎo)體及電子元器件制造領(lǐng)域，苛刻溫度環(huán)境下的性能驗(yàn)證是產(chǎn)品研發(fā)與質(zhì)量控制的關(guān)鍵環(huán)節(jié)之一，超快速冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)通過(guò)模擬溫度驟變環(huán)境，為產(chǎn)品可靠性評(píng)估提供溫控支持。不同溫變速率的設(shè)備在技術(shù)原理上存在...
查看全文
高精度冷水機(jī)chiller在半導(dǎo)體制造中如何應(yīng)用
2025/08/22 65
在半導(dǎo)體制造過(guò)程中，溫度控制的穩(wěn)定性直接關(guān)系到芯片的物理性能與電氣特性，而高精度冷水機(jī)chiller作為核心溫控設(shè)備之一，通過(guò)準(zhǔn)確調(diào)節(jié)工藝環(huán)境溫度，為晶圓制造、刻蝕、薄膜沉積等關(guān)鍵環(huán)節(jié)提供了可靠的溫度保障...
查看全文
芯片恒溫老化測(cè)試設(shè)備的穩(wěn)態(tài)環(huán)境構(gòu)建與長(zhǎng)期可靠性評(píng)估方法研究
2025/08/14 75
在半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的質(zhì)量控制體系中，芯片的長(zhǎng)期性能穩(wěn)定性是衡量產(chǎn)品品質(zhì)的核心指標(biāo)之一。為確保芯片在長(zhǎng)期使用過(guò)程中保持穩(wěn)定運(yùn)行，需要通過(guò)專門設(shè)備模擬其在實(shí)際工況下的工作環(huán)境，進(jìn)行持續(xù)性的性能監(jiān)測(cè)。芯片恒溫...
查看全文
半導(dǎo)體高低溫老化測(cè)試箱的苛刻環(huán)境模擬與可靠性驗(yàn)證技術(shù)研究
2025/08/14 77
在半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)中，芯片的可靠性直接關(guān)系到電子設(shè)備的性能與使用周期。為確保芯片在復(fù)雜環(huán)境中穩(wěn)定工作，需通過(guò)專門設(shè)備模擬苛刻條件下的工作狀態(tài)，其中高低溫老化測(cè)試箱通過(guò)準(zhǔn)確控制溫度、濕度等參數(shù)，加速芯片的...
查看全文
半導(dǎo)體控溫老化測(cè)試Chamber實(shí)現(xiàn)溫度環(huán)境準(zhǔn)確調(diào)控與動(dòng)態(tài)適配
2025/08/14 86
半導(dǎo)體器件的長(zhǎng)期可靠性驗(yàn)證高度依賴控溫老化測(cè)試，而測(cè)試結(jié)果的一致性則是評(píng)估器件性能的核心前提之一。半導(dǎo)體控溫老化測(cè)試 Chamber 通過(guò)融入智能化溫控技術(shù)，實(shí)現(xiàn)了溫度環(huán)境的準(zhǔn)確調(diào)控與動(dòng)態(tài)適配，為不同批次、...
查看全文
面向苛刻測(cè)試需求加熱恒溫循環(huán)器在半導(dǎo)體測(cè)試中的控溫與場(chǎng)景適配方案
2025/08/08 94
在半導(dǎo)體器件的測(cè)試流程中，溫度環(huán)境的準(zhǔn)確控制是確保測(cè)試數(shù)據(jù)可靠性的核心要素，加熱恒溫循環(huán)器作為提供穩(wěn)定溫度場(chǎng)的關(guān)鍵設(shè)備之一，通過(guò)液體循環(huán)與動(dòng)態(tài)調(diào)節(jié)技術(shù)，為半導(dǎo)體測(cè)試提供了可信賴的溫度控制解決方案。 ...
查看全文
多通道半導(dǎo)體老化測(cè)試系統(tǒng)從模塊化架構(gòu)到動(dòng)態(tài)溫控的配置與優(yōu)化
2025/08/08 68
半導(dǎo)體行業(yè)對(duì)器件可靠性的要求日益嚴(yán)格，老化測(cè)試作為驗(yàn)證芯片長(zhǎng)期穩(wěn)定性的關(guān)鍵環(huán)節(jié)，其測(cè)試系統(tǒng)的配置與效率直接影響產(chǎn)品質(zhì)量與研發(fā)周期。多通道半導(dǎo)體老化測(cè)試系統(tǒng)通過(guò)并行處理多個(gè)測(cè)試任務(wù)，能夠大幅提升測(cè)試...
查看全文
大功率半導(dǎo)體控溫老化設(shè)備面向可靠性測(cè)試的設(shè)計(jì)優(yōu)化與驗(yàn)證方法探究
2025/08/08 90
在半導(dǎo)體器件可靠性評(píng)估領(lǐng)域，大功率半導(dǎo)體控溫老化設(shè)備承擔(dān)著模擬苛刻工作環(huán)境、驗(yàn)證器件長(zhǎng)期穩(wěn)定性的重要職責(zé)。這類設(shè)備需在寬溫域范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確控溫，同時(shí)應(yīng)對(duì)大功率器件在老化過(guò)程中產(chǎn)生的高熱量負(fù)載，其設(shè)...
查看全文
大功率半導(dǎo)體控溫老化設(shè)備的核心性能及其在工業(yè)場(chǎng)景中的應(yīng)用價(jià)值
2025/07/31 91
在半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的工業(yè)化生產(chǎn)與可靠性測(cè)試環(huán)節(jié)，大功率控溫老化設(shè)備作為核心裝備之一，承擔(dān)著模擬苛刻環(huán)境、加速芯片老化過(guò)程的關(guān)鍵任務(wù)。其性能表現(xiàn)直接關(guān)系到芯片可靠性評(píng)估的準(zhǔn)確性與工業(yè)生產(chǎn)的效率，尤其在高功...
查看全文

400電話: